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所属类别:声学类校准
可以按照JJF/ISO/ASTM/EN/GB等标准对相控阵/TOFT探伤仪的扇扫成像横向分辨力、纵向分辨力、角度分辨力、短缺陷分辨力、几何尺寸测量误差、接收器带宽、发射脉冲上升时间、上表面盲区、缺陷深度、高度及长度测量误差等项目进行校验。
产品概述:
声发射检测仪校准
超声波探伤仪校准
超声波探头校准